闵教授在集成电路测试及容错计算领域的成就突出，他曾任中国科学院计算技术研究所研究员和博士生导师。他的研究帮助提高了数据存储系统的可靠性，尤其是在计算机和智能手机的核心部件中，其研究成果极大推动了行业的进步。如，基于闵教授思想的容错技术已经集成到许多高端手机中，使其在恶劣环境下仍能稳定运行。